Plataformas PXI Express para pruebas de semiconductores
A medida que las pruebas de semiconductores se vuelven más complejas, las plataformas PXI Express pueden generar cambios tanto en el canal de medición como en los niveles de arquitectura del sistema.
ADLINK Technology ha introducido dos nuevas plataformas PXI Express, la unidad de medición de fuente PXIe 9908 y el chasis PXES 2596, destinadas a aplicaciones de medición y prueba electrónica y de semiconductores.Las incorporaciones amplían su cartera PXI con opciones destinadas a respaldar la caracterización eléctrica de precisión y arquitecturas de sistemas escalables desde la validación hasta la producción de mayor volumen.
A nivel de sistema, el chasis ofrece una plataforma PXI Express de 9 o 12 ranuras construida en un backplane Gen3, que ofrece hasta 16 GB por segundo de ancho de banda para configuraciones de pruebas sincronizadas y de múltiples módulos.También está disponible una variante únicamente de placa posterior, que incorpora disipadores de calor preinstalados, sensores térmicos integrados y soporte de curva de ventilador para facilitar la integración en diseños mecánicos personalizados.La flexibilidad de configuración está orientada a ODM e integradores de sistemas que requieren una implementación personalizada.
A nivel de medición, el sistema de medición es una SMU de ocho canales y cuatro cuadrantes diseñada para el suministro y medición de voltaje y corriente en la caracterización de dispositivos, pruebas de circuitos integrados y validación de confiabilidad.Admite velocidades de actualización de hasta 100 kS por segundo y velocidades de muestreo de hasta 1 MS por segundo.La especificación permite mediciones de amplio rango manteniendo la sensibilidad a señales de bajo nivel, comúnmente requeridas en pruebas avanzadas de semiconductores y electrónica de baja potencia.
Juntas, las plataformas combinan capacidad de medición de alta velocidad con una arquitectura de chasis escalable, abordando los requisitos de entornos de prueba modulares, sincronizados y listos para producción en aplicaciones de semiconductores, electrónica y optoelectrónica.
"Los sistemas de prueba automatizados modernos requieren precisión a nivel de medición y escalabilidad a nivel del sistema", dijo Andy Tseng, gerente senior de la división de productos de ADLINK Technology."Con PXIe 9908 y PXES 2596, estamos permitiendo a los clientes construir plataformas PXI flexibles que escalan eficientemente desde la validación hasta la producción de alto volumen".
